材料結構分析：
　　X射線衍射儀是確定未知樣品物相組成最常用技術。X射線衍射進行相結構鑒別，區分樣品中主要相，次要相，和微量相化合物、元素含量，分析結果還包括物相名稱，化學式，晶體系統，晶胞參數晶粒尺寸等信息。使用晶體結構數據庫ICSD和材料結構數據庫ICDD數據庫作為樣品結構分析依據，使用Rietveld分析方法可以得到最可靠物相定量分析結果和物相結構完整的信息。

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