X射線探測器系列化

線性探測器
　　正比探測器、閃爍探測器
　　使用時需要配置單色器，有效去掉Kβ線。
　　最大線性計數：≥5×10⁵CPS
　　能譜分辨率：正比≤25%、閃爍≤50%。

SDD硅漂移探測器
　　使用時不需要配置單色器，最大線性計數：≥1.5×10⁵CPS、能譜分辨率≤200eV，較線性探測器，樣品測量速度提高4倍以上，可實現高分辨率X射線衍射測量。

高速一維陣列探測器
　　由640個探測器組成的一維半導體陳列探測器，相比傳統的閃爍或正比探測器可以提高衍射強度120倍以上，在較短時間內，獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖，并且還有非常好的去熒光能力，即使是測量強熒光的樣品，一維半導體陳列探測器提供的數據也展示出非常好的信噪比。
　　最大線性計數：≥9×10⁹CPS，能譜分辨率：≤25%；有高計數模式及去除熒光背景兩種工作模式。

半導體線陣探測器

探測器型號是： MiniPIX 60K 由捷克航空實驗室制作，有效面積14×14mm、像素尺寸55μm、像素數量256×256、每個像素計數率大于3×10⁶cps。樣品測量速度較常規的正比探測器+單色器提高35倍以上。

半導體陣列探測器Si樣品衍射譜圖